Search Results for Optical Metrology.

Skip to:Search Results

|

|

|

|

Kütüphane Hesabım

|

|

|

Remember to clear the cache and close the browser window.

Search Limit

Rooms Restriction Values

13

Search Field

Target Value

Limit Value

Restriction Value

Arama:

Gelişmiş Arama

Arama Sonuçlarını Sınırlandır

Daraltılmış:

+

Shelf Location: CRC Ekitapları

Yazar

Diebold, A. C. (Alain C.)

(1)

Doering, Robert, 1946-

(1)

Harding, Kevin G.

(1)

Malacara, Daniel, 1937-

(1)

Nishi, Yoshio, 1940-

(1)

Osten, Wolfgang.

(1)

(1)

Sennaroglu, Alphan.

(1)

Smith, Bruce W., 1959-

(1)

(1)

Suzuki, Kazuaki.

(1)

Taylor and Francis.

(1)

Thompson, Brian J.

(1)

Tuchin, V. V. (Valerii Viktorovich)

(1)

Yoshizawa, Toru, 1939-

(1)

Tümünü genişlet

Dil

(12)

Yayın Yılı

-

(3)

(2)

(2)

(1)

(1)

(1)

(1)

(1)

Tümünü genişlet

Konu

Optical measurements -- Handbooks, manuals, etc.

(2)

Computer vision.

(1)

Dimensional analysis -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Electronic books.

(1)

Imaging systems in medicine -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Imaging systems.

(1)

Integrated circuits -- Masks.

(1)

(1)

Manufacturing processes.

(1)

Masks (Electronics) -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Measurement -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Metal oxide semiconductors, Complementary -- Design and construction.

(1)

Metrology -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Microelectronics.

(1)

Microlithography -- Industrial applications.

(1)

Nanophotonics -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Optical detectors -- Industrial applications.

(1)

Optical instruments -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Optics -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Photobiology -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Photonics -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Phototherapy -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Quality control -- Optical methods.

(1)

SCIENCE / Optics.

(1)

Semiconductor industry -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Semiconductors -- Design and construction -- Handbooks, manuals, etc.

(1)

Semiconductors -- Inspection.

(1)

Semiconductors -- Measurement.

(1)

Solid-state lasers.

(1)

Three-dimensional imaging.

(1)

Tümünü genişlet

Materyal Türü

Kütüphane

Çevrimiçi Kütüphane

{sortLabel}

	{facetName}	{results}

	{displayName}	{count}
{error}

Liste görünümüne geç

Küçük resim görünümüne geç

12 sonuç bulundu

Arama sonuçlarına abone ol

1

000000000000DEFAULT_TR

Yazdır

Liste seç

Bunu varsayılan liste yap.

Öğeler başarıyla eklendi

Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.

One or more items could not be added because you are not logged in.

1.

Handbook of optical dimensional metrology için kapak resmi

Handbook of optical dimensional metrology

Handbook of optical dimensional metrology

Yazar

Harding, Kevin G.

Yer Numarası

T50 .H268 2013

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

2.

Handbook of optical metrology : principles and applications için kapak resmi

Handbook of optical metrology : principles and applications

Handbook of optical metrology : principles and applications

Yazar

Yoshizawa, Toru, 1939-

Yer Numarası

QC367 .H36 2009

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

3.

Handbook of 3D machine vision : optical metrology and imaging için kapak resmi

Handbook of 3D machine vision : optical metrology and imaging

Handbook of 3D machine vision : optical metrology and imaging

Yazar

Song, Zhang.

Yer Numarası

TK8315 .H36 2013

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

4.

Handbook of photonics for biomedical science için kapak resmi

Handbook of photonics for biomedical science

Handbook of photonics for biomedical science

Yazar

Tuchin, V. V. (Valerii Viktorovich)

Yer Numarası

R857 .O6 H366 2010

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

5.

Handbook of semiconductor manufacturing technology için kapak resmi

Handbook of semiconductor manufacturing technology

Handbook of semiconductor manufacturing technology

Yazar

Doering, Robert, 1946- Nishi, Yoshio, 1940-

Yer Numarası

TK7871.85 .H3335 2008

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

6.

Solid-state lasers and applications için kapak resmi

Solid-state lasers and applications

Solid-state lasers and applications

Yazar

Sennaroglu, Alphan.

Yer Numarası

TA1705 .S6748 2007

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

7.

Optical inspection of microsystems için kapak resmi

Optical inspection of microsystems

Optical inspection of microsystems

Yazar

Osten, Wolfgang.

Yer Numarası

TS156.2 .O652 2007

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

8.

Microlithography : science and technology için kapak resmi

Microlithography : science and technology

Microlithography : science and technology

Yazar

Suzuki, Kazuaki. Smith, Bruce W., 1959-

Yer Numarası

TK7836 .M525 2007

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

9.

Handbook of photomask manufacturing technology için kapak resmi

Handbook of photomask manufacturing technology

Handbook of photomask manufacturing technology

Yazar

Rizvi, Syed.

Yer Numarası

TK7872 .M3 H36 2005

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

10.

Handbook of Laser Technology and Applications (Three- Volume Set). için kapak resmi

Handbook of Laser Technology and Applications (Three- Volume Set).

Handbook of Laser Technology and Applications (Three- Volume Set).

Yazar

Taylor and Francis.

Yer Numarası

TA1675 .H363 2003

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

11.

Handbook of optical engineering için kapak resmi

Handbook of optical engineering

Handbook of optical engineering

Yazar

Malacara, Daniel, 1937- Thompson, Brian J.

Yer Numarası

TA1520 .H368 2001

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

12.

Handbook of silicon semiconductor metrology için kapak resmi

Handbook of silicon semiconductor metrology

Handbook of silicon semiconductor metrology

Yazar

Diebold, A. C. (Alain C.)

Yer Numarası

TK7871.85 .H3337 2001

Elektronik Erişim

Click here to view.

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

1

Go to:Search Results

|

|

Copyright 2011 Sirsi Corporation - Enterprise Version 5.0.0.11