Skip to:Content
|
Bottom
Computed electron micrographs and defect identification için kapak resmi
Başlık:
Computed electron micrographs and defect identification
Yazar:
Head, A. K.
Yayın Bilgileri:
Amsterdam : Horth-Holland, 1973.
Fiziksel Tanımlama:
400 s.
Seri:
Defects in crystalline solids ; v. 7
Seri Başlığı:
Defects in crystalline solids ; v. 7
Yazar Ek Girişi:
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
Kitap 7.2/12/584870 QD 901 D4 1973 C7
Arıyor...

On Order

Go to:Top of Page