Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Software metrics and software metrology için kapak resmi
Software metrics and software metrology
Yazar 
Abran, Alain, 1949-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381791
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
The Physics of Metrology All about Instruments: From Trundle Wheels to Atomic Clocks için kapak resmi
The Physics of Metrology All about Instruments: From Trundle Wheels to Atomic Clocks
Yazar 
Hebra, Alexius J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-78381-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Fundamental principles of engineering nanometrology için kapak resmi
Fundamental principles of engineering nanometrology
Yazar 
Leach, R. K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080964546
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Handbook of photonics for biomedical science için kapak resmi
Handbook of photonics for biomedical science
Yazar 
Tuchin, V. V. (Valeri? Viktorovich)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Fundamental principles of engineering nanometrology için kapak resmi
Fundamental principles of engineering nanometrology
Yazar 
Leach, R. K.
Yer Numarası 
ONLINE(355774.1)
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9781455777532
http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080964546
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets