Skip to:Content
|
Bottom
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs için kapak resmi
Başlık:
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Yazar:
Shen, Ruijing. author.
ISBN:
9781461407881
Fiziksel Tanımlama:
XXXI, 305p. 104 illus. online resource.
Yazar Ek Girişi:

Tüzel Kişi Ek Girişi:
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 173778-2001 ONLINE
Arıyor...

On Order

Go to:Top of Page