Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Nanometer Variation-Tolerant SRAM Circuits and Statistical Design for Yield için kapak resmi
Nanometer Variation-Tolerant SRAM Circuits and Statistical Design for Yield
Yazar 
Abu-Rahma, Mohamed H. author. Anis, Mohab. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331282.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1749-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS için kapak resmi
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Yazar 
Chiang, Charles C. author. Kawa, Jamil. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5188-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets