Skip to:Content
|
Bottom
Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies için kapak resmi
Başlık:
Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
Yazar:
Elgamel, Mohamed A. author.
ISBN:
9780387293660
Fiziksel Tanımlama:
XIX, 137 p. online resource.
Yazar Ek Girişi:
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 165637-2001 ONLINE
Arıyor...

On Order

Go to:Top of Page