Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Testing Complex and Embedded Systems için kapak resmi
Testing Complex and Embedded Systems
Yazar 
Pries, Kim H., author. Quigley, Jon M., author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK7895 .E42
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Basic data analysis for time series with R için kapak resmi
Basic data analysis for time series with R
Yazar 
Derryberry, DeWayne R., author.
Yer Numarası 
ONLINE(341606.1)
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=1719581
John Wiley http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118593233
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118593233
MyiLibrary http://www.myilibrary.com?id=632010
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=1719581
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Component-oriented programming için kapak resmi
Component-oriented programming
Yazar 
Wang, Andy Ju An. Qian, Kai.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click for information
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=228466
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0471713708
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=228466
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/55955200.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets