Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(22)
Drechsler, Rolf. author.
(3)
Bhushan, Manjul. author.
(2)
Ketchen, Mark B. author.
(2)
Amiri, Mehdi, author.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(16)
Systems engineering.
(14)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(11)
Electronic books.
(10)
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
33 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology için kapak resmi
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques için kapak resmi
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques
Yazar 
Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Electrical connectors : design, manufacture, test, and selection için kapak resmi
Electrical connectors : design, manufacture, test, and selection
Yazar 
Pecht, Michael, editor. Kyeong, San, editor.
Yer Numarası 
TK3521
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119679837
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
CMOS Test and Evaluation A Physical Perspective için kapak resmi
CMOS Test and Evaluation A Physical Perspective
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4939-1349-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines için kapak resmi
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Yazar 
Drechsler, Rolf. author. Eggersglüβ, Stephan. author. Fey, Görschwin. author. Tille, Daniel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-2360-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits için kapak resmi
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Yazar 
Sánchez, Gloria Huertas. author. García de la Vega, Diego Vázquez. author. Rueda, Adoración Rueda. author. Díaz, José Luis Huertas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5315-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Handbook of 3D integration. Volume 4, Design, test, and thermal management için kapak resmi
Handbook of 3D integration. Volume 4, Design, test, and thermal management
Yazar 
Franzon, Paul D., editor. Marinissen, Eric Jan, editor. Bakir, Muhannad S., editor.
Yer Numarası 
TK7874.893 .H36 2019
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527697052
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Design Automation Techniques for Approximation Circuits Verification, Synthesis and Test için kapak resmi
Design Automation Techniques for Approximation Circuits Verification, Synthesis and Test
Yazar 
Chandrasekharan, Arun. author. Große, Daniel. author. Drechsler, Rolf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-98965-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Critical mm-Wave Components for Synthetic Automatic Test Systems için kapak resmi
Critical mm-Wave Components for Synthetic Automatic Test Systems
Yazar 
Hrobak, Michael. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-658-09763-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques için kapak resmi
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques
Yazar 
Chen, Mingsong. author. Qin, Xiaoke. author. Koo, Heon-Mo. author. Mishra, Prabhat. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331265.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1359-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability için kapak resmi
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Yazar 
Eggersglüß, Stephan. author. Drechsler, Rolf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9976-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets