Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Residual Stress Measurement and the Slitting Method için kapak resmi
Residual Stress Measurement and the Slitting Method
Yazar 
Cheng, Weili. author. Finnie, Iain. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-39030-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Measurement, Control, and Communication Using IEEE 1588 için kapak resmi
Measurement, Control, and Communication Using IEEE 1588
Yazar 
Eidson, John C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-251-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Advances in Manufacturing II Volume 5 - Metrology and Measurement Systems için kapak resmi
Advances in Manufacturing II Volume 5 - Metrology and Measurement Systems
Yazar 
Diering, Magdalena. editor. Wieczorowski, Michał. editor. Brown, Christopher A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-18682-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Systems-Level Packaging for Millimeter-Wave Transceivers için kapak resmi
Systems-Level Packaging for Millimeter-Wave Transceivers
Yazar 
Božanić, Mladen. author. (orcid)0000-0001-9174-0781 Sinha, Saurabh. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-14690-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets