Skip to:Content
|
Bottom
SiGe and Si strained-layer epitaxy for silicon heterostructure devices için kapak resmi
Başlık:
SiGe and Si strained-layer epitaxy for silicon heterostructure devices
Yazar:
Cressler, John D.
ISBN:
9781420066869
Yayın Bilgileri:
Boca Raton : CRC Press/Taylor & Francis, c2008.
Fiziksel Tanımlama:
264 p. : ill.
Yazar Ek Girişi:
Tek Biçim Eser Adı:
Silicon heterostructure handbook.
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 290588-1001 ONLINE
Arıyor...

On Order

Go to:Top of Page