Skip to:Content
|
Bottom
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy Probing the traps in field-effect transistors için kapak resmi
Başlık:
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy Probing the traps in field-effect transistors
Yazar:
Im, Seongil. author.
ISBN:
9789400763920
Fiziksel Tanımlama:
XI, 101 p. 61 illus. online resource.
Seri:
SpringerBriefs in Physics,
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 336233-1001 ONLINE(336233.1)
Arıyor...

On Order

Go to:Top of Page