Skip to:Content
|
Bottom
RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors için kapak resmi
Başlık:
RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors
Yazar:
Gao, Jianjun
ISBN:
9781613530900
Yayın Bilgileri:
Raleigh, NC : SciTech Publishing Inc., 2010.
Fiziksel Tanımlama:
1 online resource ( p.)
Seri:
Electromagnetic Waves
Seri Başlığı:
Electromagnetic Waves
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 248013-1001 ONLINE
Arıyor...

On Order

Go to:Top of Page