Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Ultra-fast material metrology için kapak resmi
Ultra-fast material metrology
Yazar 
Horn, Alexander, PD Dr.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=482071
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527627929
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10332978
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Optical imaging and metrology advanced technologies için kapak resmi
Optical imaging and metrology advanced technologies
Yazar 
Osten, Wolfgang. Reingand, Nadya.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=947916
Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527648443
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10575536
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Metrology in industry the key for quality için kapak resmi
Metrology in industry the key for quality
Yazar 
Collège français de métrologie. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0806/2006003530-b.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470612125
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations için kapak resmi
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations
Yazar 
Mansfield, Elisabeth, editor. Kaiser, Debra L., editor. Fujita, Daisuke, editor. Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley Online Library
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Forensic metrology : scientific measurement and inference for lawyers, judges and criminalists için kapak resmi
Forensic metrology : scientific measurement and inference for lawyers, judges and criminalists
Yazar 
Vosk, Ted, author. Emery, A. F. (Ashley Francis), 1934- author.
Yer Numarası 
ONLINE(357151.1)
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Laser metrology in fluid mechanics granulometry, temperature and concentration measurements için kapak resmi
Laser metrology in fluid mechanics granulometry, temperature and concentration measurements
Yazar 
Boutier, A. (Alain)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library Click here to view book
Connect to MyiLibrary resource.
Wiley http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118576847
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118576847
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Fundamental principles of engineering nanometrology için kapak resmi
Fundamental principles of engineering nanometrology
Yazar 
Leach, R. K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080964546
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Fundamental principles of engineering nanometrology için kapak resmi
Fundamental principles of engineering nanometrology
Yazar 
Leach, R. K.
Yer Numarası 
ONLINE(355774.1)
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9781455777532
http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080964546
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets