Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Nanoscale Materials for Warfare Agent Detection: Nanoscience for Security için kapak resmi
Nanoscale Materials for Warfare Agent Detection: Nanoscience for Security
Yazar 
Bittencourt, Carla. editor. Ewels, Chris. editor. Llobet, Eduard. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-024-1620-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Photo-Thermal Spectroscopy with Plasmonic and Rare-Earth Doped (Nano)Materials Basic Principles and Applications için kapak resmi
Photo-Thermal Spectroscopy with Plasmonic and Rare-Earth Doped (Nano)Materials Basic Principles and Applications
Yazar 
Rafiei Miandashti, Ali. author. Baral, Susil. author. Santiago, Eva Yazmin. author. Khosravi Khorashad, Larousse. author. O. Govorov, Alexander. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-3591-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Small-Scale Robotics From Nano-to-Millimeter-Sized Robotic Systems and Applications First International Workshop, microICRA 2013, Karlsruhe, Germany, May 6-10, 2013, Revised and Extended Papers için kapak resmi
Small-Scale Robotics From Nano-to-Millimeter-Sized Robotic Systems and Applications First International Workshop, microICRA 2013, Karlsruhe, Germany, May 6-10, 2013, Revised and Extended Papers
Yazar 
Paprotny, Igor. editor. Bergbreiter, Sarah. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-55134-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Nanotoxicology Materials, Methodologies, and Assessments için kapak resmi
Nanotoxicology Materials, Methodologies, and Assessments
Yazar 
Durán, Nelson. editor. Guterres, Silvia S. editor. Alves, Oswaldo L. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-8993-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System için kapak resmi
Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System
Yazar 
Samukawa, Seiji. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-4-431-54795-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets