Skip to:Content
|
Bottom
Helium Ion Microscopy Principles and Applications için kapak resmi
Başlık:
Helium Ion Microscopy Principles and Applications
Yazar:
Joy, David C. author.
ISBN:
9781461486602
Fiziksel Tanımlama:
VIII, 64 p. 29 illus., 16 illus. in color. online resource.
Seri:
SpringerBriefs in Materials,
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 332438-1001 ONLINE(332438.1)
Arıyor...

On Order

Go to:Top of Page