Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices için kapak resmi
Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices
Yazar 
Ueda, Osamu. editor. Pearton, Stephen J. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331478.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4337-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Lock-in Thermography Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials için kapak resmi
Lock-in Thermography Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Yazar 
Breitenstein, Otwin. author. Warta, Wilhelm. author. Langenkamp, Martin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-02417-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Materials for Information Technology Devices, Interconnects and Packaging için kapak resmi
Materials for Information Technology Devices, Interconnects and Packaging
Yazar 
Zschech, Ehrenfried. editor. Whelan, Caroline. editor. Mikolajick, Thomas. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-235-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets