Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques için kapak resmi
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Yazar 
Sayil, Selahattin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-69673-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Instrumentation, Measurement, Circuits and Systems için kapak resmi
Instrumentation, Measurement, Circuits and Systems
Yazar 
Zhang, Tianbiao. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-27334-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Functional Verification Coverage Measurement and Analysis için kapak resmi
Functional Verification Coverage Measurement and Analysis
Yazar 
Piziali, Andrew. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b117979
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Supportability engineering handbook implementation, measurement, and management için kapak resmi
Supportability engineering handbook implementation, measurement, and management
Yazar 
Jones, James V.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Compact Models and Measurement Techniques for High-Speed Interconnects için kapak resmi
Compact Models and Measurement Techniques for High-Speed Interconnects
Yazar 
Sharma, Rohit. author. Chakravarty, Tapas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1071-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy Probing the traps in field-effect transistors için kapak resmi
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy Probing the traps in field-effect transistors
Yazar 
Im, Seongil. author. Chang, Youn-Gyoung. author. Kim, Jae Hoon. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(336233.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6392-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Quantitative measurements for logistics için kapak resmi
Quantitative measurements for logistics
Yazar 
Frohne, Philip T. SOLE--The International Society of Logistics.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Instrumentation design studies için kapak resmi
Instrumentation design studies
Yazar 
Doebelin, Ernest O.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets