Başlık:
VLSI test principles and architectures design for testability
Yazar:
Wang, Laung-Terng.
ISBN:
9780080474793
Yayın Bilgileri:
Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006.
Fiziksel Tanımlama:
1 online resource (xxx, 777 p.) : ill.
Seri:
The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Seri Başlığı:
The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Elektronik Erişim:
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123705976Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 253779-1001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |