Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Thin film analysis by X-ray scattering için kapak resmi
Thin film analysis by X-ray scattering
Yazar 
Birkholz, Mario. Fewster, Paul F. Genzel, Christoph. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527607595
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/bookhome/112599282
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Crystallographic Texture of Materials için kapak resmi
Crystallographic Texture of Materials
Yazar 
Suwas, Satyam. author. Ray, Ranjit Kumar. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4471-6314-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Nanoscience Advances in CBRN Agents Detection, Information and Energy Security için kapak resmi
Nanoscience Advances in CBRN Agents Detection, Information and Energy Security
Yazar 
Petkov, Plamen. editor. Tsiulyanu, Dumitru. editor. Kulisch, Wilhelm. editor. Popov, Cyril. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-017-9697-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Current Trends of Surface Science and Catalysis için kapak resmi
Current Trends of Surface Science and Catalysis
Yazar 
Park, Jeong Young. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-8742-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets