Logic testing and design for testability

Skip to:Content

|

Logic testing and design for testability için kapak resmi

Başlık:

Logic testing and design for testability

Yazar:

Fujiwara, Hideo.

ISBN:

9780262256186

Yayın Bilgileri:

Cambridge, Mass. : MIT Press, c1985.

Fiziksel Tanımlama:

1 online resource (x, 284 p.) : ill.

Seri:

MIT Press series in computer systems

Seri Başlığı:

MIT Press series in computer systems

Konu Terimleri:

Logic circuits -- Testing.

Integrierte Schaltung.

Elektronik Erişim:

IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6267264

Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane	Materyal Türü	Demirbaş Numarası	Yer Numarası	Durumu/İade Tarihi	Materyal Ayırtma
Arıyor... Çevrimiçi Kütüphane	E-Kitap	220153-1001	ONLINE	Arıyor... Unknown	Arıyor... Rafta

On Order

Go to:Top of Page