Başlık:
Physical measurement and analysis of thin films
Yazar:
Eastern Analytical Symposium (1967 : New York).
Toplantı Adı Girişi:
Yayın Bilgileri:
New York : Plenum, 1969.
Fiziksel Tanımlama:
xi, 194 s. : res.
Seri:
Progress in analytical chemistry ; v.2
Seri Başlığı:
Progress in analytical chemistry ; v.2
Konu Terimleri:
Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | Kitap | 7.2/12/448946 | QC 176 E2 1967 | Arıyor... | Arıyor... |