Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(19)
Collège français de métrologie.
(2)
Gåsvik, Kjell J.
(2)
John Wiley & Sons.
(2)
Leach, R. K.
(2)
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(8)
Metrology.
(8)
Electronic books.
(6)
Nanotechnology.
(5)
Optical measurements.
(4)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
58 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Metrology için kapak resmi
Metrology
Yazar 
Gao, Wei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-10-4938-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Mass Metrology için kapak resmi
Mass Metrology
Yazar 
Gupta, S. V. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-23412-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Optical metrology için kapak resmi
Optical metrology
Yazar 
Gåsvik, Kjell J. John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470855606
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Optical metrology için kapak resmi
Optical metrology
Yazar 
Gåsvik, Kjell J.
Yer Numarası 
ONLINE(318819.1)
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=146226
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=79534
MyiLibrary http://www.myilibrary.com?id=26972
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/0470855606
Table of contents http://catdir.loc.gov/catdir/toc/wiley023/2002072607.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Speckle metrology için kapak resmi
Speckle metrology
Yazar 
Erf, Robert K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780122413605
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Comprehensive mass metrology için kapak resmi
Comprehensive mass metrology
Yazar 
Kochsiek, Manfred. Gläser, Michael, 1942- John Wiley & Sons.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/43419333.html
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527602992
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Metrology for engineers için kapak resmi
Metrology for engineers
Yazar 
Galyer, J. F. W. Shotbolt, C. R., ort. yaz.
Yer Numarası 
T 50 G3 1980
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Ultra-fast material metrology için kapak resmi
Ultra-fast material metrology
Yazar 
Horn, Alexander, PD Dr.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=482071
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527627929
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10332978
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Handbook of optical dimensional metrology için kapak resmi
Handbook of optical dimensional metrology
Yazar 
Harding, Kevin G.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Instrumentation and metrology in oceanography için kapak resmi
Instrumentation and metrology in oceanography
Yazar 
Le Menn, Marc.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ebrary An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118561959
Table of contents http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy1303/2012025490-t.html
ebrary http://site.ebrary.com/id/10684971
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Optical imaging and metrology advanced technologies için kapak resmi
Optical imaging and metrology advanced technologies
Yazar 
Osten, Wolfgang. Reingand, Nadya.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=947916
Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527648443
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10575536
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Semiconductor strain metrology principles and applications için kapak resmi
Semiconductor strain metrology principles and applications
Yazar 
Wong, Terence K. S.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=500610
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç