Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Physical measurement and analysis of thin films için kapak resmi
Physical measurement and analysis of thin films
Yazar 
Eastern Analytical Symposium (1967 : New York). Murt, E. M., ed. Guldner, W. G., ed.
Yer Numarası 
QC 176 E2 1967
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Thin film phenomena için kapak resmi
Thin film phenomena
Yazar 
Chopra, Kasturi L., 1933-
Yer Numarası 
QC 176.8.T5 C55 1969
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: