Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
LSI/VLSI testability design için kapak resmi
LSI/VLSI testability design
Yazar 
Tsui, Frank F.
Yer Numarası 
TH 7874 T78 1987
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Microelectronic processing : an introduction to the manufacture of integrated circuits için kapak resmi
Microelectronic processing : an introduction to the manufacture of integrated circuits
Yazar 
Ruska, W. Scot.
Yer Numarası 
TK 7874 R87 1987
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
3. 
Solutions manual : introduction to integrated circuit engineering için kapak resmi
Solutions manual : introduction to integrated circuit engineering
Yazar 
Reinhard, D. K. Reinhard, D. K. Introduction to integrated circuit engineering.
Yer Numarası 
TK 7874 R441 1987
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Microelectronics için kapak resmi
Microelectronics
Yazar 
Millman, Jacob. Grabel, A., ed.
Yer Numarası 
TK 7874 M527 1987
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: