Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
VLSI electronics microstructure science için kapak resmi
VLSI electronics microstructure science
Yazar 
Einspruch, Norman G.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780122341236
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Silicon molecular beam epitaxy proceedings of the 3rd International Symposium on Silicon Molecular Beam Epitaxy, Symposium A of the 1989 E-MRS Conference, Strasbourg, France, 30 May-2 June 1989 için kapak resmi
Silicon molecular beam epitaxy proceedings of the 3rd International Symposium on Silicon Molecular Beam Epitaxy, Symposium A of the 1989 E-MRS Conference, Strasbourg, France, 30 May-2 June 1989
Yazar 
International Symposium on Silicon Molecular Beam Epitaxy (3rd : 1989 : Strasbourg, France) Kasper, Erich. Parker, E. H. C. European Materials Research Society.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444886200
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Computational materials science the simulation of materials microstructures and properties için kapak resmi
Computational materials science the simulation of materials microstructures and properties
Yazar 
Raabe, Dierk.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Click here to see page images available via Wiley.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/3527601945
HathiTrust Digital Library Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/40821147.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Unbiased stereology : three-dimensional measurement in microscopy için kapak resmi
Unbiased stereology : three-dimensional measurement in microscopy
Yazar 
Howard, Vyvyan. Reed, Matt G., ort.yaz.
Yer Numarası 
Q 175 H86 1998
Format: 
Durum 
Sağlık Bilimleri Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: