Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Vlsi-Soc: From Systems To Silicon Proceedings of IFIP TC 10, WG 10.5, Thirteenth International Conference on Very Large Scale Integration of System on Chip (VLSI-SoC 2005), October 17-19, 2005, Perth, Australia için kapak resmi
Vlsi-Soc: From Systems To Silicon Proceedings of IFIP TC 10, WG 10.5, Thirteenth International Conference on Very Large Scale Integration of System on Chip (VLSI-SoC 2005), October 17-19, 2005, Perth, Australia
Yazar 
Reis, Ricardo. editor. Osseiran, Adam. editor. Pfleiderer, Hans-Joerg. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-73661-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Sensitivity and uncertainty analysis için kapak resmi
Sensitivity and uncertainty analysis
Yazar 
Cacuci, D. G. Ionescu-Bujor, Mihaela. Navon, Ionel Michael.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Sensitivity and uncertainty analysis için kapak resmi
Sensitivity and uncertainty analysis
Yazar 
Cacuci, D. G. Ionescu-Bujor, Mihaela. Navon, Ionel Michael.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: