Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(10)
Wiley InterScience (Online service)
(3)
Ahson, Syed.
(1)
Bartolini, Novella. editor.
(1)
Bauer, Eric.
(1)
Dil
Konu
Electronic books.
(10)
Engineering.
(7)
System safety.
(7)
Reliability (Engineering)
(5)
Computer science.
(3)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
32 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Structural reliability için kapak resmi
Structural reliability
Yazar 
Lemaire, Maurice. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=477683
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470611708
MyiLibrary, Table of contents http://www.myilibrary.com?id=216540&ref=toc
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10361215
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Practical system reliability için kapak resmi
Practical system reliability
Yazar 
Bauer, Eric. Zhang, Xuemei. Kimber, Douglas A.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=273294
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Electric power distribution reliability için kapak resmi
Electric power distribution reliability
Yazar 
Brown, Richard E., 1969-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Safety and reliability of bridge structures için kapak resmi
Safety and reliability of bridge structures
Yazar 
Mahmoud, Khaled M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
VoIP handbook applications, technologies, reliability, and security için kapak resmi
VoIP handbook applications, technologies, reliability, and security
Yazar 
Ahson, Syed. Ilyas, Mohammad, 1953-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies için kapak resmi
Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
Yazar 
Strong, Alvin Wayne, 1946-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361029
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Solder Joint Reliability Prediction for Multiple Environments için kapak resmi
Solder Joint Reliability Prediction for Multiple Environments
Yazar 
Perkins, Andrew E. author. Sitaraman, Suresh K. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-79394-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Security and Reliability of Damaged Structures and Defective Materials için kapak resmi
Security and Reliability of Damaged Structures and Defective Materials
Yazar 
Pluvinage, Guy. editor. Sedmak, Aleksandar. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-2792-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Reliability and Risk Issues in Large Scale Safety-critical Digital Control Systems için kapak resmi
Reliability and Risk Issues in Large Scale Safety-critical Digital Control Systems
Yazar 
Seong, Poong Hyun. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84800-384-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
The theory and applications of reliability with emphasis on Bayesian and nonparametric methods için kapak resmi
The theory and applications of reliability with emphasis on Bayesian and nonparametric methods
Yazar 
Conference on the Theory and Applications of Reliability with Emphasis on Bayesian and Nonparametric Methods (1975 : University of South Florida) Tsokos, Chris P. Shimi, I. N. United States. Air Force. Office of Scientific Research. University of South Florida.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780127021010
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Safety, reliability and risk of structures, infrastructures and engineering systems proceedings of the Tenth International Conference on Structural Safety and Reliability (ICOSSAR2009), Osaka, Japan, 13-17 September 2009 için kapak resmi
Safety, reliability and risk of structures, infrastructures and engineering systems proceedings of the Tenth International Conference on Structural Safety and Reliability (ICOSSAR2009), Osaka, Japan, 13-17 September 2009
Yazar 
International Conference on Structural Safety and Reliability (10th : 2009 : Osaka, Japan) Furuta, Hitoshi. Frangopol, Dan M. Shinozuka, Masanobu. Hirokane, Michiyuki.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Computer Safety, Reliability, and Security 28th International Conference, SAFECOMP 2009, Hamburg, Germany, September 15-18, 2009. Proceedings için kapak resmi
Computer Safety, Reliability, and Security 28th International Conference, SAFECOMP 2009, Hamburg, Germany, September 15-18, 2009. Proceedings
Yazar 
Buth, Bettina. editor. Rabe, Gerd. editor. Seyfarth, Till. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-04468-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: