Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
7 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Transactions on Large-Scale Data- and Knowledge-Centered Systems XL için kapak resmi
Transactions on Large-Scale Data- and Knowledge-Centered Systems XL
Yazar 
Hameurlain, Abdelkader. editor. Wagner, Roland. editor. Morvan, Franck. editor. Tamine, Lynda. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-58664-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Transactions on Large-Scale Data- and Knowledge-Centered Systems XLI Special Issue on Data and Security Engineering için kapak resmi
Transactions on Large-Scale Data- and Knowledge-Centered Systems XLI Special Issue on Data and Security Engineering
Yazar 
Hameurlain, Abdelkader. editor. Wagner, Roland. editor. Dang, Tran Khanh. editor. (orcid)0000-0002-7282-3589 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-58808-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Transactions on Large-Scale Data- and Knowledge-Centered Systems XLII için kapak resmi
Transactions on Large-Scale Data- and Knowledge-Centered Systems XLII
Yazar 
Hameurlain, Abdelkader. editor. Wagner, Roland. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-60531-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
VLSI-SoC: Design and Engineering of Electronics Systems Based on New Computing Paradigms 26th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2018, Verona, Italy, October 8–10, 2018, Revised and Extended Selected Papers için kapak resmi
VLSI-SoC: Design and Engineering of Electronics Systems Based on New Computing Paradigms 26th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2018, Verona, Italy, October 8–10, 2018, Revised and Extended Selected Papers
Yazar 
Bombieri, Nicola. editor. Pravadelli, Graziano. editor. Fujita, Masahiro. editor. Austin, Todd. editor. Reis, Ricardo. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-23425-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Tag Counting and Monitoring in Large-Scale RFID Systems Theoretical Foundations and Algorithm Design için kapak resmi
Tag Counting and Monitoring in Large-Scale RFID Systems Theoretical Foundations and Algorithm Design
Yazar 
Yu, Jihong. author. Chen, Lin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-91992-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Sensitivity and uncertainty analysis için kapak resmi
Sensitivity and uncertainty analysis
Yazar 
Cacuci, D. G. Ionescu-Bujor, Mihaela. Navon, Ionel Michael.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Sensitivity and uncertainty analysis için kapak resmi
Sensitivity and uncertainty analysis
Yazar 
Cacuci, D. G. Ionescu-Bujor, Mihaela. Navon, Ionel Michael.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: