Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
11 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Atomic force microscopy için kapak resmi
Atomic force microscopy
Yazar 
Eaton, Peter. West, Paul.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Oxford scholarship online http://dx.doi.org/10.1093/acprof:oso/9780199570454.001.0001
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Atomic force microscopy in nanobiology için kapak resmi
Atomic force microscopy in nanobiology
Yazar 
Takeyasu, Kunio, 1950- editor.
Yer Numarası 
ONLINE(342731.1)
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Amplitude modulation atomic force microscopy için kapak resmi
Amplitude modulation atomic force microscopy
Yazar 
Castro García, Ricardo. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527632183
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=43158
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Atomic force microscopy in liquid biological applications için kapak resmi
Atomic force microscopy in liquid biological applications
Yazar 
Baró, Arturo M. Reifenberger, Ronald G.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527649808
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Atomic force microscopy exploring basic modes and advanced applications için kapak resmi
Atomic force microscopy exploring basic modes and advanced applications
Yazar 
Haugstad, Greg, 1963-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118360668
ebrary http://site.ebrary.com/id/10606048
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118360668
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications için kapak resmi
Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications
Yazar 
Haugstad, Greg.
Yer Numarası 
QH212.A78 H38 2012
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
7. 
Atomic force microscopy in process engineering introduction to AFM for improved processes and products için kapak resmi
Atomic force microscopy in process engineering introduction to AFM for improved processes and products
Yazar 
Bowen, W. Richard. Hilal, Nidal.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9781856175173
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
The world of nano-biomechanics mechanical imaging and measurement by atomic force microscopy için kapak resmi
The world of nano-biomechanics mechanical imaging and measurement by atomic force microscopy
Yazar 
Ikai, Atsushi. Afrin, R. (Rehana)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444527776
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Polymer morphology için kapak resmi
Polymer morphology
Yazar 
Yang, Hongshun.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=540287
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Electrochemical nanotechnology in-situ local probe techniques at electrochemical interfaces için kapak resmi
Electrochemical nanotechnology in-situ local probe techniques at electrochemical interfaces
Yazar 
Lorenz, W. J. Plieth, W. (Waldfried) International Union of Pure and Applied Chemistry. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=481756
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527612154
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/39117390.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Surface analysis with STM and AFM experimental and theoretical aspects of image analysis için kapak resmi
Surface analysis with STM and AFM experimental and theoretical aspects of image analysis
Yazar 
Magonov, Sergei N. Whangbo, Myung-Hwan. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527615117
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: