Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
2013
(4)
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices için kapak resmi
Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices
Yazar 
Ueda, Osamu. editor. Pearton, Stephen J. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331478.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4337-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Computational Electromagnetics and Model-Based Inversion A Modern Paradigm for Eddy-Current Nondestructive Evaluation için kapak resmi
Computational Electromagnetics and Model-Based Inversion A Modern Paradigm for Eddy-Current Nondestructive Evaluation
Yazar 
Sabbagh, Harold A. author. Murphy, R. Kim. author. Sabbagh, Elias H. author. Aldrin, John C. author. Knopp, Jeremy S. author.
Yer Numarası 
ONLINE(330843.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8429-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Evaluating Measurement Accuracy A Practical Approach için kapak resmi
Evaluating Measurement Accuracy A Practical Approach
Yazar 
Rabinovich, Semyon G. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332097.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6717-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Handbook of Technical Diagnostics Fundamentals and Application to Structures and Systems için kapak resmi
Handbook of Technical Diagnostics Fundamentals and Application to Structures and Systems
Yazar 
Czichos, Horst. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333141.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-25850-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: