Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
VLSI Design and Test for Systems Dependability için kapak resmi
VLSI Design and Test for Systems Dependability
Yazar 
Asai, Shojiro. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Next Generation and Advanced Network Reliability Analysis Using Markov Models and Software Reliability Engineering için kapak resmi
Next Generation and Advanced Network Reliability Analysis Using Markov Models and Software Reliability Engineering
Yazar 
Ali, Syed Riffat. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-01647-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Reliability and availability of cloud computing için kapak resmi
Reliability and availability of cloud computing
Yazar 
Bauer, Eric. Adams, Randee. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6266788
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: