Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
SCIENCE.
(5)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(4)
Energy.
(2)
Lasers.
(2)
Metrology.
(2)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
18 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Ultra-fast material metrology için kapak resmi
Ultra-fast material metrology
Yazar 
Horn, Alexander, PD Dr.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=482071
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527627929
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10332978
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Optical imaging and metrology advanced technologies için kapak resmi
Optical imaging and metrology advanced technologies
Yazar 
Osten, Wolfgang. Reingand, Nadya.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=947916
Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527648443
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10575536
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Software metrics and software metrology için kapak resmi
Software metrics and software metrology
Yazar 
Abran, Alain, 1949-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381791
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Advances in speckle metrology and related techniques için kapak resmi
Advances in speckle metrology and related techniques
Yazar 
Kaufmann, Guillermo H.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Wiley InterScience - Full Text Online http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9783527633852
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10446636
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Transverse disciplines in metrology proceedings of the 13th International Metrology Congress, 2007, Lille, France için kapak resmi
Transverse disciplines in metrology proceedings of the 13th International Metrology Congress, 2007, Lille, France
Yazar 
International Metrology Conference (13th : 2007 : French College of Metrology) Collège français de métrologie. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=477706
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470611371
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10360928
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=477706
HathiTrust Digital Library, Limited view (search only) http://catalog.hathitrust.org/api/volumes/oclc/230183422.html
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Modern characterization of electromagnetic systems and its associated metrology için kapak resmi
Modern characterization of electromagnetic systems and its associated metrology
Yazar 
Sarkar, Tapan (Tapan K.), editor. Salazar-Palma, Magdalena, editor. Zhu, Ming Da, editor. Chen, Heng, 1990- editor.
Yer Numarası 
QC760 .M53 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119076230
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Performance-based gear metrology kinematic-transmission-error computation and diagnosis için kapak resmi
Performance-based gear metrology kinematic-transmission-error computation and diagnosis
Yazar 
Mark, William D.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118357903
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=51229
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
A practical guide to optical metrology for thin films için kapak resmi
A practical guide to optical metrology for thin films
Yazar 
Quinten, Michael.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Check for Full Text Access restricted: MSVU users only
Ebook Library Click here to view book
Connect to MyiLibrary resource.
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527664344
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Psychometrics, Test Theory, and the Latent Factors Model. için kapak resmi
Psychometrics, Test Theory, and the Latent Factors Model.
Yazar 
Blahus, Pet. Blahus, Petr/Brown, Bruce L. Bunderson, C. Victor.
Yer Numarası 
XX(600387.1)
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119312246
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Accuracy and Calibration Failures in Science and Engineering. için kapak resmi
Accuracy and Calibration Failures in Science and Engineering.
Yazar 
Holloway, Michael D.
Yer Numarası 
TA165
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394417056
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Biomedical devices and sensors için kapak resmi
Biomedical devices and sensors
Yazar 
Molimard, Jérôme, author.
Yer Numarası 
R856 .M65 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394317172
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Some complex phenomena in fluid and solid mechanics için kapak resmi
Some complex phenomena in fluid and solid mechanics
Yazar 
Saouab, Abdelghani, editor. Champmartin, Stéphane, editor. Naciri, Jaafar Khalid, editor. Ambari, Abdelhak, honoree.
Yer Numarası 
QC145.2 .S66 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394332335
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: