Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Software engineering.
(5)
COMPUTERS -- Software Development & Engineering -- General.
(2)
Computer software -- Reliability.
(2)
TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / General.
(2)
Benchmarking (Management)
(1)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
10 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Systems and software engineering with applications için kapak resmi
Systems and software engineering with applications
Yazar 
Schneidewind, Norman.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5769539
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5769539
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Trustworthy systems through quantitative software engineering için kapak resmi
Trustworthy systems through quantitative software engineering
Yazar 
Bernstein, Lawrence, 1940- Yuhas, C. M. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?bknumber=5988898
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Rapid prototyping of software for avionics systems : model-oriented approaches for complex systems certification için kapak resmi
Rapid prototyping of software for avionics systems : model-oriented approaches for complex systems certification
Yazar 
Larrieu, Nicolas, author. Varet, Antoine, author.
Yer Numarası 
ONLINE(342171.1)
Elektronik Erişim 
ebrary An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781119050643
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
The Electrical Engineering Handbook - Six Volume Set için kapak resmi
The Electrical Engineering Handbook - Six Volume Set
Yazar 
Dorf, Richard C., editor. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
R857 .B54
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Testing Complex and Embedded Systems için kapak resmi
Testing Complex and Embedded Systems
Yazar 
Pries, Kim H., author. Quigley, Jon M., author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK7895 .E42
Elektronik Erişim 
Click here to view
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Spon's External Works and Landscape Price Book 2015 için kapak resmi
Spon's External Works and Landscape Price Book 2015
Yazar 
AECOM. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
SB472.5
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Fraud and fraud detection : a data analytics approach için kapak resmi
Fraud and fraud detection : a data analytics approach
Yazar 
Gee, Sunder.
Yer Numarası 
ONLINE(342064.1)
Elektronik Erişim 
Cover image http://catalogimages.wiley.com/images/db/jimages/9781118779651.jpg
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=1834781
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118936764
http://swb.eblib.com/patron/FullRecord.aspx?p=1834781
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Dependability benchmarking for computer systems için kapak resmi
Dependability benchmarking for computer systems
Yazar 
Kanoun, Karama. Spainhower, Lisa.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6129686
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Context-Aware Pervasive Systems : Architectures for a New Breed of Applications için kapak resmi
Context-Aware Pervasive Systems : Architectures for a New Breed of Applications
Yazar 
Loke, Seng, author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
QA76.5915
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Computers, Software Engineering, and Digital Devices için kapak resmi
Computers, Software Engineering, and Digital Devices
Yazar 
Dorf, Richard C., author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK7885
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: