Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Security and Quality in Cyber-Physical Systems Engineering With Forewords by Robert M. Lee and Tom Gilb için kapak resmi
Security and Quality in Cyber-Physical Systems Engineering With Forewords by Robert M. Lee and Tom Gilb
Yazar 
Biffl, Stefan. editor. (orcid)0000-0002-3413-7780 Eckhart, Matthias. editor. Lüder, Arndt. editor. Weippl, Edgar. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-25312-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Artifact-Driven Business Process Monitoring A Novel Approach to Transparently Monitor Business Processes, Supported by Methods, Tools, and Real-World Applications için kapak resmi
Artifact-Driven Business Process Monitoring A Novel Approach to Transparently Monitor Business Processes, Supported by Methods, Tools, and Real-World Applications
Yazar 
Meroni, Giovanni. author. (orcid)0000-0002-9551-1860 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-32412-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Embedded systems and wireless technology için kapak resmi
Embedded systems and wireless technology
Yazar 
Aquino Santos, Raul, 1965- Block, Arthur Edwards, 1957-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Multi-core embedded systems için kapak resmi
Multi-core embedded systems
Yazar 
Kornaros, Georgios.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: