Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(28)
Drechsler, Rolf. author.
(2)
Bhushan, Manjul. author.
(1)
Boiko, Igor. author.
(1)
Bosio, Alberto. author.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
28 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology için kapak resmi
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques için kapak resmi
Integrated Circuit Test Engineering Modern Techniques
Yazar 
Grout, Ian A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-84628-173-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects için kapak resmi
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. author. Peng, Ke. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8297-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines için kapak resmi
Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Yazar 
Drechsler, Rolf. author. Eggersglüβ, Stephan. author. Fey, Görschwin. author. Tille, Daniel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-2360-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits için kapak resmi
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Yazar 
Sánchez, Gloria Huertas. author. García de la Vega, Diego Vázquez. author. Rueda, Adoración Rueda. author. Díaz, José Luis Huertas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-5315-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Non-parametric Tuning of PID Controllers A Modified Relay-Feedback-Test Approach için kapak resmi
Non-parametric Tuning of PID Controllers A Modified Relay-Feedback-Test Approach
Yazar 
Boiko, Igor. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(330986.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-4465-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Three Approaches to Data Analysis Test Theory, Rough Sets and Logical Analysis of Data için kapak resmi
Three Approaches to Data Analysis Test Theory, Rough Sets and Logical Analysis of Data
Yazar 
Chikalov, Igor. author. Lozin, Vadim. author. Lozina, Irina. author. Moshkov, Mikhail. author. Nguyen, Hung Son. author.
Yer Numarası 
ONLINE(333195.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-28667-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques için kapak resmi
System-Level Validation High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques
Yazar 
Chen, Mingsong. author. Qin, Xiaoke. author. Koo, Heon-Mo. author. Mishra, Prabhat. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331265.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1359-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
China Satellite Navigation Conference (CSNC) 2013 Proceedings BeiDou/GNSS Navigation Applications • Test & Assessment Technology • User Terminal Technology için kapak resmi
China Satellite Navigation Conference (CSNC) 2013 Proceedings BeiDou/GNSS Navigation Applications • Test & Assessment Technology • User Terminal Technology
Yazar 
Sun, Jiadong. editor. Jiao, Wenhai. editor. Wu, Haitao. editor. Shi, Chuang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(334420.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-37398-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Industrial Process Identification and Control Design Step-test and Relay-experiment-based Methods için kapak resmi
Industrial Process Identification and Control Design Step-test and Relay-experiment-based Methods
Yazar 
Liu, Tao. author. Gao, Furong. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-977-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: