Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Accelerated life testing of one-shot devices : data collection and analysis için kapak resmi
Accelerated life testing of one-shot devices : data collection and analysis
Yazar 
Balakrishnan, N., 1956- author. Ling, Man Ho, author. So, Hon Yiu, author.
Yer Numarası 
TA169.3 .B35 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119664031
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Probabilistic physics of failure approach to reliability : modeling, accelerated testing, prognosis and reliability assessment için kapak resmi
Probabilistic physics of failure approach to reliability : modeling, accelerated testing, prognosis and reliability assessment
Yazar 
Modarres, M. (Mohammad), author. Amiri, Mehdi, author. Jackson, Christopher, 1979- author.
Yer Numarası 
TA169.5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119388692
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: