Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
2023
(4)
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging için kapak resmi
Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
Yazar 
Gan, Chong Leong,. author. Huang, Chen-Yu,. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-26708-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory için kapak resmi
Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory
Yazar 
Mizutani, Satoshi. author. Zhao, Xufeng. author. Nakagawa, Toshio. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-27316-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Applications in Reliability and Statistical Computing için kapak resmi
Applications in Reliability and Statistical Computing
Yazar 
Pham, Hoang. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-21232-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Risk-Conscious Operations Management An Integrated Paradigm for Complex Engineering System için kapak resmi
Risk-Conscious Operations Management An Integrated Paradigm for Complex Engineering System
Yazar 
Varde, Prabhakar V. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-19-9334-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: