Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Computer Engineering and Technology 16th National Conference, NCCET 2012, Shanghai, China, August 17-19, 2012, Revised Selected Papers için kapak resmi
Computer Engineering and Technology 16th National Conference, NCCET 2012, Shanghai, China, August 17-19, 2012, Revised Selected Papers
Yazar 
Xu, Weixia. editor. Xiao, Liquan. editor. Lu, Pingjing. editor. Li, Jinwen. editor. Zhang, Chengyi. editor.
Yer Numarası 
ONLINE(334080.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-35898-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Computer Engineering and Technology 17th CCF Conference, NCCET 2013, Xining, China, July 20-22, 2013. Revised Selected Papers için kapak resmi
Computer Engineering and Technology 17th CCF Conference, NCCET 2013, Xining, China, July 20-22, 2013. Revised Selected Papers
Yazar 
Xu, Weixia. editor. Xiao, Liquan. editor. Zhang, Chengyi. editor. Li, Jinwen. editor. Yu, Liyan. editor.
Yer Numarası 
ONLINE(335131.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-41635-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: