Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy Probing the traps in field-effect transistors için kapak resmi
Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy Probing the traps in field-effect transistors
Yazar 
Im, Seongil. author. Chang, Youn-Gyoung. author. Kim, Jae Hoon. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(336233.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6392-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Surface Science Techniques için kapak resmi
Surface Science Techniques
Yazar 
Bracco, Gianangelo. editor. Holst, Bodil. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333819.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-34243-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: