Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Ellipsometry at the Nanoscale için kapak resmi
Ellipsometry at the Nanoscale
Yazar 
Losurdo, Maria. editor. Hingerl, Kurt. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333782.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-33956-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Nondestructive Testing of Materials and Structures için kapak resmi
Nondestructive Testing of Materials and Structures
Yazar 
Büyüköztürk, Oral. author. Taşdemir, Mehmet Ali. author. Güneş, Oğuz. editor. Akkaya, Yılmaz. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335698.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-0723-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Computational Electromagnetics and Model-Based Inversion A Modern Paradigm for Eddy-Current Nondestructive Evaluation için kapak resmi
Computational Electromagnetics and Model-Based Inversion A Modern Paradigm for Eddy-Current Nondestructive Evaluation
Yazar 
Sabbagh, Harold A. author. Murphy, R. Kim. author. Sabbagh, Elias H. author. Aldrin, John C. author. Knopp, Jeremy S. author.
Yer Numarası 
ONLINE(330843.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8429-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Evaluating Measurement Accuracy A Practical Approach için kapak resmi
Evaluating Measurement Accuracy A Practical Approach
Yazar 
Rabinovich, Semyon G. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332097.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6717-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: