Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations için kapak resmi
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations
Yazar 
Mansfield, Elisabeth, editor. Kaiser, Debra L., editor. Fujita, Daisuke, editor. Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley Online Library
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Fundamental principles of engineering nanometrology için kapak resmi
Fundamental principles of engineering nanometrology
Yazar 
Leach, R. K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080964546
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Fundamental principles of engineering nanometrology için kapak resmi
Fundamental principles of engineering nanometrology
Yazar 
Leach, R. K.
Yer Numarası 
ONLINE(355774.1)
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9781455777532
http://www.sciencedirect.com/science/book/9780080964546
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: