Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
2021
(2)
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Applications and metrology at nanometer scale. 1, Smart materials, electromagnetic waves and uncertainties için kapak resmi
Applications and metrology at nanometer scale. 1, Smart materials, electromagnetic waves and uncertainties
Yazar 
Dahoo, Pierre Richard. Pougnet, Philippe. El Hami, Abdelkhalak.
Yer Numarası 
QC88
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119808244
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Applications and metrology at nanometer scale. 2, Measurement systems, quantum engineering and RBDO method için kapak resmi
Applications and metrology at nanometer scale. 2, Measurement systems, quantum engineering and RBDO method
Yazar 
Dahoo, Pierre Richard, author. Pougnet, Philippe, author. El Hami, Abdelkhalak, author.
Yer Numarası 
QC88
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119818984
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: