Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design için kapak resmi
Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
Yazar 
Lienig, Jens. author. (orcid)0000-0002-2140-4587 Rothe, Susann. author. Thiele, Matthias. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-80023-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Microprocessor. 5, Software and hardware aspects of development, debugging and testing -- the microcomputer için kapak resmi
Microprocessor. 5, Software and hardware aspects of development, debugging and testing -- the microcomputer
Yazar 
Darche, Philippe.
Yer Numarası 
QA76.5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119801740
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Microprocessor. 4, Core concepts -- software aspects için kapak resmi
Microprocessor. 4, Core concepts -- software aspects
Yazar 
Darche, Philippe, author.
Yer Numarası 
QA76.5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119801979
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Microprocessor. 1, Prolegomena -- Calculation and storage functions -- Models of computation and computer architecture için kapak resmi
Microprocessor. 1, Prolegomena -- Calculation and storage functions -- Models of computation and computer architecture
Yazar 
Darche, Philippe.
Yer Numarası 
QA76.5 .D37 2020 EB
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119779667
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: