Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(36)
Aretz, Anke. editor.
(1)
Avella, Adolfo. editor.
(1)
Beaurepaire, Eric. editor.
(1)
Bhushan, Bharat. editor.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Spectroscopy and Microscopy.
(21)
Surfaces (Physics).
(14)
Characterization and Evaluation of Materials.
(9)
Nanotechnology.
(9)
Engineering.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
36 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Confocal Raman Microscopy için kapak resmi
Confocal Raman Microscopy
Yazar 
Dieing, Thomas. editor. Hollricher, Olaf. editor. Toporski, Jan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-12522-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Acoustic Scanning Probe Microscopy için kapak resmi
Acoustic Scanning Probe Microscopy
Yazar 
Marinello, Francesco. editor. Passeri, Daniele. editor. Savio, Enrico. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333153.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-27494-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Yazar 
Fultz, Brent. author. Howe, James. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333265.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-29761-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Digital Holographic Microscopy Principles, Techniques, and Applications için kapak resmi
Digital Holographic Microscopy Principles, Techniques, and Applications
Yazar 
Kim, Myung K. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7793-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Transmission Electron Microscopy Physics of Image Formation için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy Physics of Image Formation
Yazar 
Kohl, Helmut. author. Reimer, Ludwig. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-40093-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 1: Instrumentation and Methods için kapak resmi
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 1: Instrumentation and Methods
Yazar 
Luysberg, Martina. editor. Tillmann, Karsten. editor. Weirich, Thomas. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85156-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 2: Materials Science için kapak resmi
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 2: Materials Science
Yazar 
Richter, Silvia. editor. Schwedt, Alexander. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85226-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 3: Life Science için kapak resmi
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany Volume 3: Life Science
Yazar 
Aretz, Anke. editor. Hermanns-Sachweh, Benita. editor. Mayer, Joachim. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85228-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3
Yazar 
Bhushan, Bharat. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333137.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-25414-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Coherent Light Microscopy Imaging and Quantitative Phase Analysis için kapak resmi
Coherent Light Microscopy Imaging and Quantitative Phase Analysis
Yazar 
Ferraro, Pietro. editor. Wax, Adam. editor. Zalevsky, Zeev. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-15813-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Optical Imaging and Microscopy Techniques and Advanced Systems için kapak resmi
Optical Imaging and Microscopy Techniques and Advanced Systems
Yazar 
Török, Peter. author. Kao, Fu-Jen. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-69565-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002
Yazar 
Vilarinho, Paula Maria. editor. Rosenwaks, Yossi. editor. Kingon, Angus. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3019-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: