Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Mass Metrology için kapak resmi
Mass Metrology
Yazar 
Gupta, S. V. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-23412-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Springer Handbook of Metrology and Testing için kapak resmi
Springer Handbook of Metrology and Testing
Yazar 
Czichos, Horst. editor. Saito, Tetsuya. editor. Smith, Leslie. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-16641-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Graphene Nanoelectronics Metrology, Synthesis, Properties and Applications için kapak resmi
Graphene Nanoelectronics Metrology, Synthesis, Properties and Applications
Yazar 
Raza, Hassan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22984-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5 Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics için kapak resmi
Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5 Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics
Yazar 
Proulx, Tom. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0228-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: