Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs için kapak resmi
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Yazar 
Shen, Ruijing. author. Tan, Sheldon X.-D. author. Yu, Hao. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0788-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits için kapak resmi
Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Yazar 
Singhee, Amith. author. Rutenbar, Rob A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3100-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Statistical Analysis and Optimization for VLSI: Timing and Power için kapak resmi
Statistical Analysis and Optimization for VLSI: Timing and Power
Yazar 
Srivastava, Ashish. author. Sylvester, Dennis. author. Blaauw, David. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b137645
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: