Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(46)
Birolini, Alessandro. author.
(4)
De Doncker, Rik. author.
(2)
Liu, Yong. author.
(2)
Lutz, Josef. author.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Electronics and Microelectronics, Instrumentation.
(26)
Engineering.
(17)
Electronic circuits.
(16)
TECHNOLOGY & ENGINEERING.
(15)
Electronic Circuits and Systems.
(14)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
62 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
MEMS Reliability için kapak resmi
MEMS Reliability
Yazar 
Hartzell, Allyson L. author. da Silva, Mark G. author. Shea, Herbert R. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6018-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Semiconductor Power Devices Physics, Characteristics, Reliability için kapak resmi
Semiconductor Power Devices Physics, Characteristics, Reliability
Yazar 
Lutz, Josef. author. Schlangenotto, Heinrich. author. Scheuermann, Uwe. author. De Doncker, Rik. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-70917-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Reliability Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Reliability Engineering Theory and Practice
Yazar 
Birolini, Alessandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-662-54209-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Reliability Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Reliability Engineering Theory and Practice
Yazar 
Birolini, Alessandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-39535-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS için kapak resmi
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Yazar 
Maricau, Elie. author. Gielen, Georges. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331961.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6163-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Lead Free Solder Mechanics and Reliability için kapak resmi
Lead Free Solder Mechanics and Reliability
Yazar 
Pang, John Hock Lye. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0463-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Semiconductor Power Devices Physics, Characteristics, Reliability için kapak resmi
Semiconductor Power Devices Physics, Characteristics, Reliability
Yazar 
Lutz, Josef. author. Schlangenotto, Heinrich. author. Scheuermann, Uwe. author. De Doncker, Rik. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-11125-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Reliability Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Reliability Engineering Theory and Practice
Yazar 
Birolini, Alessandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-14952-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Reliability Engineering Theory and Practice için kapak resmi
Reliability Engineering Theory and Practice
Yazar 
Birolini, Alessandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-49390-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Repairable systems reliability analysis : a comprehensive framework için kapak resmi
Repairable systems reliability analysis : a comprehensive framework
Yazar 
Rai, Rajiv Nandan, author. Chaturvedi, Sanjay K., author. Bolia, Nomesh, author.
Yer Numarası 
QA402 .R35 2020
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119526582
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Power GaN Devices Materials, Applications and Reliability için kapak resmi
Power GaN Devices Materials, Applications and Reliability
Yazar 
Meneghini, Matteo. editor. Meneghesso, Gaudenzio. editor. Zanoni, Enrico. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-43199-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç