Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Advances in geometric modeling and processing : 5th international conference, GMP 2008, Hangzhou, China, April 23-25, 2008. proceedings için kapak resmi
Advances in geometric modeling and processing : 5th international conference, GMP 2008, Hangzhou, China, April 23-25, 2008. proceedings
Yazar 
Chen, Falai. Jüttler, Bert.
Yer Numarası 
TA174 .G58 2008
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Pattern models için kapak resmi
Pattern models
Yazar 
Ahuja, Narendra, 1950- Schachter, Bruce Jay, 1946- ort. yaz.
Yer Numarası 
TK 7882.P3 A36 1982
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: