Characterization in silicon processing için kapak resmi
Başlık:
Characterization in silicon processing
Yazar:
Strausser, Yale.
ISBN:
9781606501115

9781606501092
Yayın Bilgileri:
New York, NY : Momentum Press, 2010.
Fiziksel Tanımlama:
1 online resource (xv, 240 p.) : ill.
Seri:
Materials characterization series
Seri Başlığı:
Materials characterization series
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 280190-1001 ONLINE
Arıyor...

On Order