Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Le, Tao.
(8)
Stead, Latha G.
(7)
Dulan, Steven W.
(6)
Kaufman, Matthew S.
(6)
SpringerLink (Online service)
(6)
Dil
Konu
Test-taking skills.
(67)
Universities and colleges -- Entrance examinations -- Study guides.
(33)
Mathematics -- Examinations -- Study guides.
(23)
College entrance achievement tests -- Study guides.
(22)
Advanced placement programs (Education) -- Examinations -- Study guides.
(21)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
137 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Rorschach's test için kapak resmi
Rorschach's test
Yazar 
Beck, Samuel Jacob, 1896-
Yer Numarası 
BF 431 B3887 1945-61 V.1
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~3
Rafta:
Kopya:
2. 
The Perfect Test için kapak resmi
The Perfect Test
Yazar 
Dietel, Ron. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-6091-478-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Nurses! test yourself in pathophysiology için kapak resmi
Nurses! test yourself in pathophysiology
Yazar 
Rogers, Katherine M. A. Scott, William N.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=382478
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Nurses! test yourself in anatomy & physiology için kapak resmi
Nurses! test yourself in anatomy & physiology
Yazar 
Rogers, Katherine. Scott, William.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=369031
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Language test construction and evaluation için kapak resmi
Language test construction and evaluation
Yazar 
Alderson, J. Charles. Clapham, Caroline, ort. yaz. Wall, Dianne, ort. yaz.
Yer Numarası 
P 53.4 A43 1995
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology için kapak resmi
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
McGraw-Hill's MAT Miller analogies test için kapak resmi
McGraw-Hill's MAT Miller analogies test
Yazar 
Zahler, Kathy A.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
McGraw-Hill's SAT subject test. Literature için kapak resmi
McGraw-Hill's SAT subject test. Literature
Yazar 
Muntone, Stephanie.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
McGraw-Hill's SAT subject test. Chemistry için kapak resmi
McGraw-Hill's SAT subject test. Chemistry
Yazar 
Evangelist, Thomas A. Evangelist, Thomas A. McGraw-Hill's SAT II chemistry.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
TABE level D test of adult basic education : the first step to lifelong success için kapak resmi
TABE level D test of adult basic education : the first step to lifelong success
Yazar 
Dutwin, Phyllis. Ku, Richard T. (Richard Tse-Min)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
McGraw-Hill's SAT subject test. Math level 2 için kapak resmi
McGraw-Hill's SAT subject test. Math level 2
Yazar 
Diehl, John. Joyce, Christine E.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
McGraw-Hill's SAT subject test. Math level 1 için kapak resmi
McGraw-Hill's SAT subject test. Math level 1
Yazar 
Diehl, John. Joyce, Christine E.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Subscription required
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç